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簡要描述：EN-1230A分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是針對于半導體器件進行非破壞性瞬態(tài)測試。用于二極管、雙極性三極管、MOEFET、IGBT的動態(tài)參數(shù)測試。系 統(tǒng)的測試原理符合相應的國家標準、軍標、系統(tǒng)為獨立式單元，封閉式結構，具有升級擴展?jié)撃堋?/p>
產(chǎn)品型號：廠商性質：代理商更新時間：2025-09-25訪 問 量：2759產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
| 品牌 | 其他品牌 |
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EN-1230A分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
系統(tǒng)概述：
EN-1230A型分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)是針對于半導體器件進行非破壞性瞬態(tài)測試。用于二極管、雙極性三極管、MOEFET、IGBT的動態(tài)參數(shù)測試。系 統(tǒng)的測試原理符合相應的國家標準、軍標、系統(tǒng)為獨立式單元，封閉式結構，具有升級擴展?jié)撃堋＿x件豐富，通過選件的靈活搭配組合實現(xiàn)相應的測試功能。PC 為系統(tǒng)主控計算機，基于Labview的軟件操作系統(tǒng)，測試結果可輸出為EXCEL及文本格式，每個功能單元均為獨立封閉的個體功能區(qū)，無相互干擾，穩(wěn)定性好， 測試能力和信號源可實現(xiàn)升級擴展，低電感跨接式電路結構，電壓1500V（預留3000V的擴展選件）,電流300A（預留500A的擴展選件）,時間測試精度:1.0ns。
EN-1230A分立器件動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)參數(shù)條件：
基本參數(shù) | 功率源 |
| 阻性/感性開關特性單元 | 脈寬：50µs~2000µs、0.1µs步徑 時間分辨率：1ns 柵極驅動：±30V，分辨率0.1V 電阻：定制 漏極電壓：5V~1500V，分辨率1V 電流：1.0~300A，分辨率:1.0A 電感：0.01mH~160mH，分辨率10µH，程控式連續(xù)可調 測試參數(shù)：開啟延遲時間（td(on))、關斷延遲時間（td(off))、上升時間（tr)、下降時間（tf) |
柵極電荷單元 | 柵極驅動電流：0~200mA，分辨率1.0mA 柵極電壓：±30V，分辨率±0.1V 電流：1.0~300A，分辨率:1.0A 漏級電壓：5V~1500V，分辨率1V 柵極等效電阻范圍：0.1~50Ω，可調 測試參數(shù)：柵電荷（Qg)、柵源電荷（Qgs)、柵漏電荷（Qgd)、平臺電壓（Vgp) |
| 反向恢復特性單元 | 正向電流（IF）：≤300A，分辨率0.1A 反向恢復時間（Trr）：10ns~2.0µs，分辨率1ns 反向恢復電流（Irm）：≤300A 反向恢復電荷（Qrr）：1nC~100µC，分辨率1nC 反向電壓（Vr）：5V~1500V，step1V 電感：0.01mH~160mH，分辨率10µH,程控式連續(xù)可調 |
短路特性 | 最大電流：1000A 柵極驅動：±30V，分辨率 0.1V 脈沖時間：5us~100us 漏極電壓：5V~1500V，Step1V 測試參數(shù)：短路電流Isc、短路耐量Esc、短路時間Tsc |
雪崩測試單元 | 雪崩耐量：100J 雪崩擊穿電壓：2500V 雪崩電流：1.0~400A；分辨率 1.0A 雪崩感性負載范圍：0.01mH～160mH；分辨率10μH； |
結電容/電阻測試單元 | 電流：1.0~300A，分辨率:1.0A 電壓：5V~1500V，分辨率1V 測試掃頻范圍：0.1MHz～5MHz 輸入電容Cies、輸出電容Coe、反向轉移電容Cres |
反偏安全工作區(qū)單元 | 2倍額定電流下，測試關斷時電壓電流 |
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