IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224特點：

1.1 原理簡述

   雙脈沖測試平臺主要是通過特定程序控制功率元件在可控范圍內兩次開通，并測量過程中各 種動態(tài)參數(shù)，特別是在不同母線電壓，不同溫度下參數(shù)差異，是評估 FRD 和 IGBT 二十多種 動態(tài)參數(shù)重要測量手段。同時也是功率元件驅動及保護電路參數(shù)調整和驗證的測量平臺。

1.2 原理框圖

IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224主要作用

1、測試對比不同 IGBT 的參數(shù)； 

2、評估驅動的功能和性能； 

3、獲取 IGBT 在開通、關斷過程的主要參數(shù)，以評估 Rgon 及 Rgoff 的數(shù)值是否合適； 

4、開通、關斷過程是否有不合適的震蕩； 

5、評估二極管的反向恢復行為和安全余量； 

6、IGBT 關斷時的電壓尖峰是否合適，關斷之后是否存在不合適的震蕩； 

7、評估 IGBT 并聯(lián)的均流特性； 

8、測量母排和系統(tǒng)的雜散電感。

9、可兼容 TO-252、TO263、TO-3P、TO-247、ME4、HP1、Hpdriver 等封裝；如特殊封裝可 以定制開發(fā)適配版。

通過此設備與示波器連接測試項目